CN119758020A 对芯片的异常掉电测试方法及其系统、设备、介质 （珠海妙存科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119758020A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202411646312.X

(22)申请日2024.11.18

(71)申请人珠海妙存科技有限公司

地址519000广东省珠海市横琴新区环岛

北路2515号2单元2001

(72)发明人李浩宋魏杰赖鼐

(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有

限公司44205

专利代理师赵伟杰

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书3页说明书10页附图3页

(54)发明名称

对芯片的异常掉电测试方法及其系