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IEC 60749-262025 CMV 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）标准立项发展报告.docx

IEC 60749-262025 CMV 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）标准立项发展报告.docx

    半导体器件-机械和气候试验方法-第26部分：静电放电（ESD）灵敏度测试-人体模型（HBM）标准立项发展报告

    StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part26:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting—Humanbodymodel(HBM)

    摘要

    静电放电（ESD）是导致半导体器件失效的主要因素之一，而人体模型（HBM）作为最经典的ESD测试模型，其标

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