IEC 60749-232025 RLV 半导体器件机械和气候试验方法第23部分高温工作寿命标准立项发展报告.docx

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半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:Hightemperatureoperatinglife

摘要

高温工作寿命(HighTemperatureOperatingLife,简称HTOL)试验是半导体器件可靠性验证体系中最为核心的试验方法之一,旨在通过施加高温偏置应力加速器件内部潜在缺陷的激发与失效,从而评估器件在长期工作条件下的可靠

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