IEC 62132-82026 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第8部分辐射抗扰度测量 - IC带状线法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量——IC带状线法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticImmunity-Part8:MeasurementofRadiatedImmunity-ICStriplineMethod

摘要

随着集成电路（IC）工作频率不断提升、集成度持续增大，电磁兼容（EMC）问题已成为制约电子系统可靠性的关键因素。在集成电路电磁抗扰度测量领域，IEC62132系列标准为业界提供了系统化的测试方法框架。其中，IEC62132-8:2026《集成电路——电磁抗扰度测量——第8部分：辐射抗扰度测量——IC带状线法》作为该系列标准的重要组成部分，规定了采用IC带状线法进行集成电路辐射抗扰度测量的完整技术方案。本报告对该标准的立项背景、技术内容、适用范围、修订历程及主要参与单位进行系统阐述，重点剖析了IC带状线法在频率覆盖范围、场均匀性、重复性等方面的技术优势，以及该方法在现代汽车电子、工业控制、消费电子等领域的广泛应用前景。报告指出，该标准的发布进一步完善了集成电路辐射抗扰度测量的标准体系，为集成电路设计、制造及系统集成企业提供了统一、可复现的测试依据，对提升我国集成电路电磁兼容