GB/T 42709.6-2026半导体器件 微电子机械器件 第6部分:薄膜材料轴向疲劳试验方法.pdf

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  •   |  2026-07-30 颁布
  •   |  2027-02-01 实施

GB/T 42709.6-2026半导体器件 微电子机械器件 第6部分:薄膜材料轴向疲劳试验方法.pdf

ICS31.200

CCSL55

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT42709.62026IEC62047-62009

半导体器件微电子机械器件

:

第部分薄膜材料轴向疲劳试验方法

6

——

SemiconductordevicesMicro-electromechanicaldevices

:

Part6Axialfatiuetestinmethodsofthinfilmmaterials

gg

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