IEC 60747-5-182026 半导体器件 第5-18部分光电器件 发光二极管 微型发光二极管外延片宏观光致发光的试验方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件第5-18部分：光电器件发光二极管微型发光二极管外延片宏观光致发光的试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Part5-18:Optoelectronicdevices-Lightemittingdiodes-Testmethodofthemacrophotoluminescenceforepitaxialwafersofmicrolightemittingdiodes

摘要

关键词：微型发光二极管；外延片；宏观光致发光；IEC标准；试验方法；光电器件；质量评价；半导体器件

Keywords:MicroLightEmittingDiodes;EpitaxialWafers;MacroPhotoluminescence;IECStandard;TestMethod;OptoelectronicDevices;QualityEvaluation;SemiconductorDevices

1引言

1.1标准立项背景

随着信息显示技术向高分辨率、高亮度、低功耗方向持续演进，MicroLED显示技术凭借其优异的综合性能，被业界普遍认为是继LCD和OLED之后的下一代主流显示技术。据行业