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- 2026-09-02 发布于重庆
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光学薄膜的检测光学薄膜透、反射率的常用测量方法测试前要进行系统光谱校正;光学薄膜透、反射率的常用测量方法红外光电接收器:硫化铅光敏电阻、红外半导体传感器或热电偶单色仪:由色散原件、狭缝机构以及色散原件的扫描驱动;光谱分析测试系统-反射率的困难照明系统:光束整形与会聚;吸收带内:R=1-T-A;各种薄膜器件对反射率测量的测量范围和精度多有不同的要求。各种薄膜器件对反射率测量的测量范围和精度多有不同的要求。两个信号进行比较得到透射率;非常规光谱特性的测量,需要自己设计测量附件进行测量。利用激光谐振腔测试激光高反射镜的反射率测试样品放于b处,测试信号I2,则R=(I1I2)1/2测试样品后表面的影响,测试透过率时不可避免会引入后表面的影响,需要通过计算消除此种影响。V-W型测试:参考样品先放于位置a处,测试信号I1;对光源的稳定性以及系统的稳定性要求极高;单次反射时参考样品反射率影响测试精度;光谱透射、反射特性是光学薄膜器件最基本的光学特性,因此光谱仪也是薄膜器件检测中最常用到的检测设备。薄膜透射率和反射率的测量薄膜透射率与反射率主要是采用光谱测试分析仪进行测试;透射率和反射率是光学薄膜器件的最基本的光学特性,因此薄膜反射率和透射率测试是光学薄膜的基本测试技术;按照波段不同划分为:紫外-可见光分光光度计、红外分光光度计;按测试原
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