IEC 63287-12021 半导体器件.通用半导体鉴定指南.第1部分IC可靠性鉴定指南标准立项发展报告.docx

半导体器件通用半导体鉴定指南第1部分：IC可靠性鉴定指南标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Genericsemiconductorqualificationguidelines-Part1:GuidelinesforICreliabilityqualification

摘要

集成电路（IC）可靠性鉴定是保障半导体器件在复杂应用环境中长期稳定运行的关键环节，也是连接器件设计制造与系统级应用可靠性之间的重要桥梁。随着芯片制程不断微缩、先进封装技术持续演进以及汽车电子、