2.半导体中的杂志和缺陷能级2022.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.43万字
  • 约 31页
  • 2026-09-03 发布于四川
  • 举报

第2章半导体中的杂质和缺陷能级

2.1硅、锗晶体中的杂质能级

2.2Ⅲ-Ⅴ族化合物中的杂质能级

*2.3氮化镓、氮化铝中的杂质能级

2.4缺陷、位错能级

1

Ø在实际应用的半导体材料晶格中,总是存在与理想偏离的情况:

1.原子并不是静止在具有严格周期的晶格的格点位置上,而

是在其平衡位置附近振动

2.材料含有杂质

3.半导体晶格结构并不完整,存在缺陷

•点缺陷(空位、间隙原子)

•线缺陷(位错)

•面缺陷(层错)

Ø实践表明,极微量的杂质和缺陷,会对半导体材料的物理性质和

化学性质产生决定性的影响,同时也严重影响半导体器件的质量。

53

•1个B原子/10个Si原子→在室温下电导率提高10倍

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档