CN119539592A 一种半导体芯片封装质检检测装置及方法 （浙江帕奇伟业半导体有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119539592A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202411621357.1

(22)申请日2024.11.14

(71)申请人浙江帕奇伟业半导体有限公司

地址314102浙江省嘉兴市嘉善县西塘镇

富康路12号A3厂房一楼东面

(72)发明人王培吉罗宗恒徐廷宁

(74)专利代理机构嘉兴中创致鸿知识产权代理

事务所(普通合伙)33384

专利代理师叶斌

(51)Int.Cl.

G06Q10/0639(2023.01)

H01L21/66(2006.01)

G06Q50/04(2012.01)

G01D21/02(2006.01)