CN119847898A 一种微型电脑主机老化测试方法及系统 （深圳市美高电子设备有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119847898A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510322160.6

(22)申请日2025.03.19

(71)申请人深圳市美高电子设备有限公司

地址518111广东省深圳市龙岗区平湖街

道禾花社区富康路6号宝能智创谷B栋

201、206-210

(72)发明人付振武宋健雷

(51)Int.Cl.

G06F11/34(2006.01)

G06F11/22(2006.01)

G06N3/04(2023.01)

G06N3/096(2023.01)

权利要求书2页说明书11页附图4页

(54)发明名称

一种微型电脑主机老化测试方法及系统

(57)摘要

CN119847898A本发明公开了一种微型电脑主机老化测试方法及系统，涉及电脑性能测试技术领域，包括连接待测设备至测试系统，进行系统待机测试，采集初始基准数据；构建老化预测模型并结合课程学习和迁移学习优化模型训练策略；基于预测结果使用AIDA64进行主机预热测试和高负载测试，同步运行HeavenBenchmark工具，测试电脑的图形处理能力。本发明结合径向基函数神经网络老化预测模型，利用课程学习和迁移学习进行模型训练，智能化分析CPU/GPU退化趋势，并结合量子随机数生成器生