CN119847900A 一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质 （深圳市星耀半导体有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119847900A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510333025.1

(22)申请日2025.03.20

(71)申请人深圳市星耀半导体有限公司

地址518000广东省深圳市龙华区大浪街

道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区3

栋七层

(72)发明人李志龙伍自军黄祥

(74)专利代理机构深圳维启专利代理有限公司44827

专利代理师常忠良

(51)Int.Cl.

G06F11/34(2006.01)

G06F11/30(2006.01)

权利要求书3页说明书14页附图3页

(54)发明名称

一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设

备及介质

(57)摘要

CN119847900A一种固态硬盘负载测试方法、系统、电子设备及介质，涉及数据处理技术领域。该方法包括：获取多个应用场景下固态硬盘的IO请求特征数据；对IO请求特征数据进行特征分类，并通过分段压缩算法对特征分类后的各类数据特征进行去冗余处理，得到负载特征指纹库；从负载特征指纹库中提取目标应用场景的目标指纹，并根据目标指纹，生成数据访问热力图；基于数据访问热力图，将基准测试负载分为冷数据流和热数据流，并对冷数据流和热数据流执行读写操作，生成混合负载序列；将混合负载序列并行加载至