CN119849308A 一种基于变分贝叶斯和混合Wiener过程的IGBT剩余寿命预测方法 （重庆大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119849308A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202411927294.2

(22)申请日2024.12.25

(71)申请人重庆大学

地址400044重庆市沙坪坝区正街174号

(72)发明人柴毅张可郭茂耘林文乙李硕

(74)专利代理机构北京领果世纪知识产权代理

有限公司16221

专利代理师范桂霞

(51)Int.Cl.

G06F30/27(2020.01)

G01R31/26(2020.01)

G06F18/20(2023.01)

G06F119/04(2020.01)

权利要求书1页说明书7页附图3页

(54)发明名称

一种基于变分贝叶斯和混合Wiener过程的

IGBT剩余寿命预测方法

(57)摘要

CN119849308A本发明公开了一种基于变分贝叶斯和混合Wiener过程的IGBT剩余寿命预测方法，属于IGBT剩余寿命预测技术领域，包括以下步骤：S1、给出混合Wiener过程的定义并建立退化模型来描述IGBT的退化轨迹；S2、使用先验样本基于变分贝叶斯算法进行离线参数估计；S3、根据自动相关确定方法进行退化模型中的最优模型选择；S4、选择当前时刻与测试样本最相似的先验样本；S5、在线更新测试样本