IEC 60749-26：2025 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分静电放电（ESD）灵敏度测试 - 人体模型（HBM）标准立项发展报告.docx

半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电（ESD）灵敏度测试人体模型（HBM）标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices—MechanicalandClimaticTestMethods—Part26:ElectrostaticDischarge(ESD)SensitivityTesting—HumanBodyModel(HBM)

摘要

静电放电（ESD）是造成半导体器件失效和电子产品质量损失的重要因素之一，据统计，电子元器件因ESD导致的损坏占其失效总数的相当大比例。为科学评估半导体器件在人体接触场景下承受静电放电的能力，国际电工委员会（IEC）发布了IEC60749-26:2025《半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电（ESD）灵敏度测试人体模型（HBM）》标准。该标准属于IEC60749系列标准的重要组成部分，以人体模型（HBM）为基本测试模型，规定了半导体器件ESD灵敏度测试的试验电路、电流波形参数、试验程序、分类判据及失效判定方法。

本报告围绕IEC60749-26:2025的立项背景、技术内容、国际标准体系发展脉络及其产业应用价值展开系统分析。报告阐述了HBM测试以100pF