BS IEC 60747-5-18-2026 微型发光二极管外延片宏观光致发光测试方法 标准立项发展报告.docxVIP

微型发光二极管外延片宏观光致发光测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductordevicesPart5-18:Optoelectronicdevices—Lightemittingdiodes—Testmethodofthemacrophotoluminescenceforepitaxialwafersofmicrolightemittingdiodes

摘要

随着新一代显示技术向高亮度、低功耗、微型化方向加速演进，微型发光二极管（MicroLED）被视为继LCD和OLED之后最具发展潜力的下一代显示技术。外延片作为MicroLED芯片制造的核心源头材料，其晶体质量与发光均匀性直接决定器件性能与良率。然而，传统光致发光（PL）测试方法多基于微观尺度或单点检测，难以兼顾宏观尺度下的全片均匀性评估与批量产线检测效率需求，业界长期缺乏统一的测试规范。在此背景下，国际电工委员会（IEC）发布标准IEC60747-5-18:2026，确立了微型发光二极管外延片宏观光致发光测试的标准方法。本标准规定了宏观光致发光测试的系统组成、测试条件、样品要求、测试流程及数据处理方法，适用于MicroLED外延片来料检验、过程监控与质量评估。本标准的发布填补了国际范围内Mi