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GB/T 47239.1-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法.pdf

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  • 2026-09-11 发布于四川
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  • 暂未开始实施
  •   |  2026-08-28 颁布
  •   |  2027-03-01 实施

GB/T 47239.1-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法.pdf

    ICS31.080.99

    CCSL40

    中华人民共和国国家标准

    GB/T47239.1—2026/IEC62951⁃1:2017

    半导体器件柔性可拉伸半导体器件

    第1部分：柔性基板上导电薄膜的

    弯曲试验方法

    Semiconductordevices—Flexibleandstretchablesemiconductordevices—

    Part1：Bendingtestmethodforconductivethinfilmsonflexiblesubstrates

    （IEC62951⁃1：2017，IDT）

    2026⁃08⁃28发布2027⁃03⁃01实施

    国家市场监督管理总局

    发布

    国家标准化管理委员会

    GB/T 47239.1-2026半导体器件　柔性可拉伸半导体器件　第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法.pdf 原文免费试下载

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