IEC 62951-92022 半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第9部分单晶体管和单电阻器（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件柔性和可拉伸半导体器件第9部分：单晶体管和单电阻器（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices–Flexibleandstretchablesemiconductordevices–Part9:Performancetestingmethodsofonetransistorandoneresistor(1T1R)resistivememorycells

摘要

随着柔性电子技术的迅猛发展，柔性和可拉伸半导体器件已成为下一代电子系统的重要发展方向。其中，基于单晶体管和单电阻器（1T1R）结构的电阻存储单元因其在柔性存储阵列中的高密度集成潜力和优异的数据保持能力，受到学术界与工业界的广泛关注。然而，由于柔性基底材料、弯曲形变条件和有机/无机混合工艺的特殊性，传统刚性半导体器件的测试方法难以直接适用，亟需建立统一的性能测试规范。IEC62951-9:2022《半导体器件柔性和可拉伸半导体器件第9部分：单晶体管和单电阻器（1T1R）电阻存储单元的性能测试方法》正是在这一背景下由国际电工委员会（IEC）正式发布的标准文件。该标准系统规定了1T1R电阻存储单元在柔性条件下的直流电学特性测试、脉冲耐久性测试、