GBT 47857-2026 空间环境 宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法.pptxVIP

GB/T47857-2026空间环境宇航用电子元器件单粒子烧毁试验方法

目录

02

试验原理

01

标准概述

03

试验设备要求

04

试验执行流程

05

结果分析与报告

06

标准应用与维护

标准概述

01

标准适用于功率金属氧化物半导体场效晶体管（MOSFET）、绝缘栅双极晶体管（IGBT）、高电子迁移率晶体管（HEMT）等宇航用电子元器件，针对其单粒子烧毁（SEB）效应提供地面模拟试验方法。

适用范围与背景

功率器件覆盖

随着我国深空探测和商业航天发展，宇航元器件面临更复杂的空间辐射环境，SEB作为破坏性最强的单粒子效应之一，亟需标准化试验方法以保障可靠性。

航天任务需求

此前国内