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- 2026-09-16 发布于江苏
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基于忆阻器的神经形态计算电路的器件波动容错结题报告
一、研究背景与问题提出
神经形态计算作为一种模拟人脑神经网络工作机制的计算范式,凭借其低功耗、高并行性的显著优势,成为突破传统冯·诺依曼计算架构瓶颈的关键方向之一。忆阻器作为神经形态计算的核心器件,其电阻可在多个非易失态间连续变化,能够精准模拟生物突触的权重调节功能,为构建高效的人工神经网络硬件提供了理想的物理基础。
然而,忆阻器在制备与工作过程中不可避免地存在器件波动问题,主要包括器件间波动和器件内波动。器件间波动表现为同一制备批次中不同忆阻器的电学特性差异,如阈值电压、电阻态范围等参数的不一致;器件内波动则体现为同一忆阻器在多次编程操作中电阻值的随机偏差。这些波动会导致人工神经网络的突触权重偏离理想值,进而严重降低网络的计算精度和鲁棒性,成为制约忆阻器基神经形态计算电路实用化的核心障碍之一。
针对这一问题,本项目聚焦于忆阻器器件波动的容错技术研究,旨在通过电路设计、算法优化和器件-电路协同设计等多维度手段,提升神经形态计算电路对器件波动的容忍能力,为实现高性能、高可靠的忆阻器基神经形态计算系统提供理论支撑和技术方案。
二、忆阻器器件波动特性分析
(一)器件波动的来源与表现形式
为深入理解忆阻器器件波动的本质,本项目首先通过实验测试与理论分析相结合的方式,系统研究了器件波动的来源与表现形式。实验采用基于HfO?材料的阻变忆阻器,
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