YST 1864-2026 颗粒硅表面金属含量测定方法.pptxVIP

YS/T1864-2026颗粒硅表面金属含量测定方法

标准概述

方法原理

设备与材料

操作流程

质量控制

结果与报告

应用领域

目录

标准概述

01

标准名称与适用范围

行业针对性

专为光伏、半导体等对硅材料纯度要求严苛的行业设计，填补了颗粒硅表面金属检测标准的空白。

适用范围

适用于流化床法制备的颗粒硅表面铁、铬、镍等15种金属杂质元素的定量分析，检测范围覆盖0.05ng/g～1000ng/g，满足高纯材料质量控制需求。

标准名称

《流化床法颗粒硅表面金属含量的测定酸浸取-电感耦合等离子体质谱法》（YS/T1864-2026），明确规定了颗粒硅表面金属杂质检测的技术路径和仪器方法。

该标准系统规范了从样品前处理到仪器分析的完整流程，确保检测数据的准确性和可比性。

采用硝酸-氢氟酸混合液浸取表面金属，优化浸取时间和温度参数，避免基体溶解干扰。

酸浸取方法

详细规定等离子体功率、载气流量等仪器条件，通过质荷比分离定量各元素，检出限低至0.05ng/g。

ICP-MS检测技术

包含空白试验、平行样偏差控制及标准物质校准等环节，确保检测结果可靠性。

质量控制要求

主要技术内容提要

统一酸浸取流程和ICP-MS参数，减少实验室间检测差异，提高数据可比性。

明确方法检出限和允许差，为不合格品判定提供权威依据。

标准实施意义

提升检测效率与一致性

助力光伏行业把控颗粒硅原料质量，降低金