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GBZ 119-2025 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测标准立项发展报告.docx

GBZ 119-2025 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测标准立项发展报告.docx

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    晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验检测标准立项发展报告

    EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:TestandDetectionofLightandElevatedTemperatureInducedDegradation(LETID)forCrystallineSiliconPhotovoltaicModules

    摘要

    随着全球能源结构转型加速，光伏发电已成为可再生能源的主力军。晶体硅光伏组件作为市场主流产品，其长期可靠性直接关系到电站的发电效益与投资回报。光热诱导衰减（LETID）

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