SJT 11997.1-2025 光纤通信用半导体激光器芯片测试方法 第1部分:基本光电特性标准立项发展报告.docx

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光纤通信用半导体激光器芯片测试方法第1部分:基本光电特性标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforSemiconductorLaserChipsforOpticalFiberCommunication—Part1:BasicOptoelectronicCharacteristics

摘要

随着光纤通信技术的快速发展,半导体激光器芯片作为光发射组件的核心器件,其性能测试的标准化需求日益迫切。本标准SJ/T11997.1-2025《光纤通信用半导体激光器芯片测试方法第1部分:基本光电特性》由行业标准-电子发布,于2025年5月9日发布,2025年11月1日正式实施。本标准针对光纤通信用半导体激光器芯片的基本光电特性测试方法进行了系统性规范,涵盖阈值电流、输出光功率、斜率效率、光谱特性、远场特性等关键参数的测试原理、测试条件和测试步骤。本标准的制定填补了国内光纤通信用半导体激光器芯片测试方法标准的空白,为芯片研发、生产、检测和应用各环节提供了统一的技术依据,对提升我国光通信芯片产业的技术水平和产品质量具有重要意义。本报告详细介绍了标准的立项背景、编制过程、主要内容、技术特点及实施意义,旨在促进标准的推广应用和后续完善。

关键词:半导体激光器芯片;光纤通信;光电特性;测试方法;行

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