CN119623491A 一种智能卡性能测试的方法 (武汉天喻信息产业股份有限公司).pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.65万字
  • 约 16页
  • 2026-09-19 发布于重庆
  • 举报

CN119623491A 一种智能卡性能测试的方法 (武汉天喻信息产业股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119623491A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411536667.3

(22)申请日2024.10.31

(71)申请人武汉天喻信息产业股份有限公司

地址430223湖北省武汉市东湖新技术开

发区华工大学科技园天喻信息

(72)发明人李超万琛肖灵董逢华

(74)专利代理机构北京汇泽知识产权代理有限

公司11228

专利代理师吴俣

(51)Int.Cl.

G06K7/00(2006.01)

G06F11/34(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图4页

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档