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EEPROM耐久性技术与严苛测试.pdfVIP

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  • 2026-09-24 发布于北京
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EEPROM耐久性技术与严苛测试.pdf

    AN1019

    EEPROM

    耐久性

    Microchip

    采用更严格的耐久性：

    作者：David

    Wilkie

    微芯科技公司

    每个产品256个样本中零失效，且每种技术三批（每批

    256单元）在目标耐久性指标下均零失效，方视为达标。

    这相当于0/768的失效率，即LTPD低于0.3%。

    基本术语写周期的定义具有一定灵活性，因为几乎每位客户都

    “耐久性”（在EEPROM领域）的定义包含多个需要会以不同方式写入器件。例如，若客户应用仅使用

    明确定义和理解的。如下文所示，不同制造商采阵列的前三个字节可变数据，其余部分用作查找表，

    用不同

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