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CN119380099A 一种基于改进YOLOv9的微电子器件表面缺陷检测方法 （中电科芯片技术(集团)有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-09-25 发布于重庆
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CN119380099A 一种基于改进YOLOv9的微电子器件表面缺陷检测方法 （中电科芯片技术(集团)有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119380099A

    (43)申请公布日2025.01.28

    (21)申请号202411514943.6G06N3/048(2023.01)

    G06N3/084(2023.01)

    (22)申请日2024.10.29

    G06T7/00(2017.01)

    (71)申请人中电科芯片技术（集团）有限公司G06T7/73(2017.01)

    地址401332重庆市沙坪坝区西永大道23

    号

    (72)发明人张凌风

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