探针测试仪核心原理.pptx

技术解析与实战应用汇报人:xxx探针测试仪核心原理

目录CONTENTS探针测试技术概述01核心工作原理详解02关键性能指标解析03典型应用场景剖析04常见故障与避坑指南05未来技术发展趋势06

01探针测试技术概述

探针卡基本结构组成精密探针针尖针尖采用钨铼合金制成，具备高硬度与导电性，确保在微米级接触中实现低阻抗信号传输。弹性悬臂梁悬臂梁提供必要过行程补偿，吸收晶圆表面高度差异产生的应力，保护芯片焊盘免受机械损伤。多层布线基板内部集成高密度互连线路，将探针信号无损传输至测试机接口，满足高频信号完整性严格要求。刚性支撑框架框架由陶瓷或复合材料构成，维持整体结构热稳定性，防止高温测试环境下发