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天讯天网GP-52智能硬件测试规范及可靠性测试

一．测试要求

所有样机须保证设计功能，性能指标、外观及结构符合设计规定。样机试验前后需要进行

性能指标测试，测试数据将被保留（保存期限为2年）便于与以后所测参数对比。

包含：

1.1GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温；

1.2GB/T2423.2-2001电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温；

1.3GB/T2423.3-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法；

1.4GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化；

1.5GB/T2423.17-1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法；

1.6GB/T2423.8-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落；

1.7GB6587.6-86电子测量仪器试验；

1.8YD/T1215-2002900/1800MHZTDMA数字蜂窝