GBT 44937.6-2025 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁发射测量第6部分：传导发射测量磁场探头法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits—MeasurementofElectromagneticEmissions—Part6:MeasurementofConductedEmissions—MagneticFieldProbeMethod

摘要

随着集成电路工作频率不断提升和集成度持续增大，芯片级电磁兼容性问题日益突出，传导发射测量成为集成电路电磁兼容评价的关键环节。GB/T44937.6-2025《集成电路电磁发射测量第6部分：传导发射测量磁场探头法》于2025年12月31日发布，将于2026年7月1日正式实施。本标准规定了采用磁场探头法测量集成电路传导发射的方法，涵盖测量原理、测试设备、测试布置、测量程序和结果评定等技术内容。本标准由国家标准机构发布，归口于集成电路、微电子学分类领域，属于现行国家标准。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、主要技术内容、与国际标准的对标分析及实施意义，旨在为集成电路设计企业、测试机构和行业管理人员提供参考。本标准的发布实施将有效规范集成电路传导发射测量方法，提升我国集成电路电磁兼容测试能力，对促进集成电路产业高质量发展具有重要意义。

关键词

中文关键词：集成