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千分尺内校作业指导书WI-QC-MIC-001

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千分尺内校作业指导书

InternalCalibrationWorkInstructionforMicrometer

文件控制说明

1.本文件为公司受控质量管理体系文件，未经书面批准，不得复制、外传或用于其他用途。

2.文件以“版本/版次”标识，任何修改须按《文件控制程序》履行评审、批准与发放手续，并更新本指导书修订记录。

3.使用单位应保留最新有效版本；作废版本须及时回收并加盖“作废”标识。

1目的

规范公司外径千分尺、内径千分尺的内部校准（内校）活动，确保量具在两次外部检定/校准周期之间持续保持所需测量能力，测量结果可追溯至国家或国际测量标准，为产品实现过程提供准确、可靠的计量保障。

2适用范围

本指导书适用于本公司所有用于产品检验、过程监控及设备验收的千分尺（含外径千分尺0～25mm、25～50mm及以上量程，内径千分尺）的内部校准管理。

本指导书不适用于作为计量标准器使用的量块、标准环规等标准器具，此类器具应送法定计量检定机构或具备资质的校准实验室进行外部校准。

3引用文件

4术语和定义

4.1内部校准（内校）：在公司内部，由经授权的计量人员使用经计量确认的测量标准，在受控环境下对测量设备进行的校准活动。

4.2校准：在规定条件下，为