CN118999381A 一种基于白光干涉的薄膜厚度测量方法及系统 (浙江双元科技股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-09-29 发布于重庆
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CN118999381A 一种基于白光干涉的薄膜厚度测量方法及系统 (浙江双元科技股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN118999381A

(43)申请公布日2024.11.22

(21)申请号202411485181.1

(22)申请日2024.10.23

(71)申请人浙江双元科技股份有限公司

地址310015浙江省杭州市拱墅区莫干山

路1418-41号2号楼

(72)发明人胡继洲胡美琴郑建

(74)专利代理机构北京市隆安律师事务所

11323

专利代理师伍佳

(51)Int.Cl.

G01B11/06(2006.01)

权利要求书2页说明书10页附图4页

(54)发明名称

一种基于白光干涉的薄膜厚度测量方法及

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