GBT 42706.8-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分：无源电子器件 标准立项发展报告.docxVIP

电子元器件半导体器件长期贮存第8部分：无源电子器件标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Electroniccomponents—Long-termstorageofelectronicsemiconductordevices—Part8:Passiveelectronicdevices

摘要：随着航空航天、轨道交通、能源电力、通信网络和高端装备制造等领域对电子元器件可靠性要求的不断提升，电子元器件长期贮存后的性能保持与风险评估已成为影响装备全生命周期保障能力的重要问题。无源电子器件数量大、分布广、服役周期长，其贮存过程中易发生潮气侵入、端电极氧化、介质老化、磁芯损耗、接触电阻增大等退化现象。GB/T42706.8-2026《电子元器件半导体器件长期贮存第8部分：无源电子器件》作为GB/T42706系列的重要组成部分，针对无源电子器件长期贮存的通用要求、环境条件、包装防护、库存管理、超期复验、数据记录和处置原则进行规范。本标准状态为未实施，实施日期为2026-09-01。本报告基于标准立项信息，结合国际电工委员会IEC62435系列标准动态和我国电子元器件标准化体系，分析该标准的立项背景、技术定位、主要内容和实施价值，旨在为相关企业、检测机构和行业管理人员提供参考。

关键词：长期贮存；无源电子器