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有限元法中变分犯罪与分片测试研究.pdf

有限元法中变分犯罪与分片测试研究.pdf

    第十七章：变分与分片测试17–2

    §17.1

    引言

    高级有限元法（Advanced

    FEM）的目标之一是构建高性能（HP）单元。这些相对简单的高

    性能有限元被1定义为“能在任意粗网格下工程精度的简单单元”。关于该定义的进一步讨论

    见附录18，其中详细解释了HP单元的构造原理。

    这些先进中使用的关键工具之一是分片测试及其特化版本——单元素测试（IET）。本章将详

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