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2025年集成电路测试技术考试题库

一、单项选择题（共30题，每题1分）

1.集成电路测试中，主要用来检测芯片内部电路连接是否正确的测试是？

A.功能测试

B.参数测试

C.断路测试

D.电流测试

2.在集成电路测试中，哪项技术主要用于测量芯片的功耗？

A.功能测试

B.参数测试

C.功耗测试

D.信号完整性测试

3.集成电路测试中，哪项测试主要用来评估芯片在不同温度下的性能？

A.高温测试

B.低温测试

C.温度循环测试

D.环境测试

4.在集成电路测试中，哪项测试主要用来检测芯片的输入输出延迟？

A.传输延迟测试

B.信号完整性测试

C.功能测试

D.参数测试

5.集成电路测试中，哪项技术