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- 2026-10-12 发布于四川
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PVQATTG4工作总结;主要内容;1.1TG4工作内容;1.2TG4中国组成员;旁通二极管中国标准提案翻译完成;准备ESD与thermalrunaway的IEC提案翻译;
TG4二极管失效分析统计表主要包括在生产应用过程中搜集回来的失效案例及分析方法、原因探究等
现场讨论:2014年宁波第四组中国区交流会;2015年上海(SNEC)、北京(CPVC)小组主要人员与Sarah沟通
;完成二极管失效分析统计表失效形式:击穿短路/封装爆裂
可能原因:生产环节/应用环节
;烧毁(电站);系统端收到EOS冲击造成材料衰降或击穿,未马上排除,致使其处于通电、发热、高温状态,长时间后引脚发黑,本体发黄、碳化;由顺德中山大学太阳能研究院收集
济南晶恒协助分析烧毁原因
判断为设计不合理,散热不良导致结温过高二极管烧毁;二极管失效数量统计(中山大学);热斑模拟(河海大学);通电断续实验(天合光能接线盒厂家);定期参加PVQAT国际小组会议,2016年召开1次中国区小组会议。;3遇到的问题及建议;谢谢!
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