IEC 60444-1-1986 Amd1-1999 石英晶体元件参数测量 第1部分:基本参数的测量方法.pdfVIP

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  • 2026-10-16 发布于广西
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IEC 60444-1-1986 Amd1-1999 石英晶体元件参数测量 第1部分:基本参数的测量方法.pdf

IEC60444-1-1986/Amd1-1999石英晶体元件参数测量第1部分:基

本参数的测量方法

涵盖1986年第一版及1999年修正案1的完整技术规格

IEC60444-1-1986/Amd1-1999《石英晶体元件参数的测量第1部分:基本参数的测量方法》是国际

电工委员会(IEC)发布的关于石英晶体元件电气参数测量的基础标准。该标准最初于1986年发布,

1999年通过修正案1(Amendment1)进行了补充和修订。截至2026年,该标准虽已被后续版本部

分取代,但其定义的测量原理和基本方法仍被广泛引用,是石英晶体谐振器、振荡器研究与生产领域

不可或缺的技术文献。

1.标准概况与适用范围

IEC60444系列标准旨在统一石英晶体元件参数测量的术语、条件和程序。第1部分作为系列的开篇,

聚焦于石英晶体元件基本电参数的测量,适用于频率范围在1MHz至200MHz(根据修正案1扩展)

的压电石英谐振器。标准详细描述了测量环境、测试夹具、仪器配置以及数据处理方法,确保不同实

验室之间的测量结果具有可比性。

⚠注意:⚠注意:修正案1(1999)主要更新了测量频率上限(从100MHz扩展到200

MHz),并修改了激励电平的取值规范,使

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