EN IEC 62132-8-2026 集成电路电磁抗扰度测量第8部分辐射抗扰度测量IC带状线法 标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁抗扰度测量第8部分辐射抗扰度测量IC带状线法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticImmunity-Part8:MeasurementofRadiatedImmunity-ICStriplineMethod

摘要

随着集成电路工作频率不断提升和集成度持续增大，电磁兼容性问题日益突出，集成电路电磁抗扰度测量已成为保障电子系统可靠性的关键技术环节。ENIEC62132-8-2026《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量IC带状线法》作为国际电工委员会IEC62132系列标准的重要组成部分，专门规定了采用IC带状线法进行集成电路辐射抗扰度测量的标准化方法。该标准于2026年3月27日正式实施，为集成电路设计、制造和测试提供了统一的辐射抗扰度评估规范。本标准涵盖了测试设备配置、IC带状线结构设计、测试条件设定、测量程序及结果评定等核心技术内容，适用于各类集成电路在辐射电磁场环境下的抗扰度性能评估。该标准的发布与实施，将有效解决当前集成电路辐射抗扰度测量方法不统一、测试结果可比性差等问题，对推动集成电路电磁兼容设计水平提升、促进电子产品国际贸易便利化