CN119418101A 晶圆缺陷分类方法及晶圆缺陷分类系统、电子设备 (杭州富芯半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-10-20 发布于重庆
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CN119418101A 晶圆缺陷分类方法及晶圆缺陷分类系统、电子设备 (杭州富芯半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119418101A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202411444783.2

(22)申请日2024.10.15

(71)申请人杭州富芯半导体有限公司

地址3

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