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利用N7700AIL/PDL软件引擎

校准光谱测试工作站中的光路径

IL去嵌入

KeysightN7700AIL/PDL软件引擎广泛用于光器件和光电器件的参数测量，现在更能为含

有多个光路径的测试解决方案简化系统校准，从而支持测试人员使用光开关、光分路器乃

至光探头来测量晶圆和芯片。

这一功能称为“IL去嵌入”，通常用于在测试工作站的初始安装或后期修改期间，测量各ILPDL

个路径分段上相对于公共参考且与波长相关的插入损耗(IL)。测量结果或通过其他方式获

得的等效校准数据可以保存起来，并用于相应的器件端口测量。如果相应的路径保持稳

定，例如使用可重复性较高的开关以及避免更改光纤连接时，这些测试工作站的校准数据

在很长时间内都是有效的。

本应用指南举例说明了IL去嵌入的用法。

MxN器件的光开关示例IL

光开关可以在多个光路径之间提供可重复性极高的选择。在自动化测试工作站中，光开关可

以快速配置路径，避免因为更改物理接触式光纤连接而导致时延和不确定的插入损耗。但

是，由于开关内部细节可能不同，并且跳线和仪器之间的光连接难免会发生变动，因此切换

路径之间