IEC 61967-4：2021 RLV：2021 集成电路电磁发射的测量第4部分传导发射的测量1欧姆150欧姆直接耦合法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁发射测量传导发射测量1Ω/150Ω直接耦合法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits–MeasurementofElectromagneticEmissions–Part4:MeasurementofConductedEmissions–1Ohm/150OhmDirectCouplingMethod

摘要

随着集成电路工作频率的持续提升和集成度的不断提高，芯片级电磁兼容性问题日益突出，传导发射作为电磁干扰的主要耦合路径之一，其标准化测量方法已成为产业界和标准化组织关注的焦点。本报告围绕IEC61967-4:2021RLV《集成电路电磁发射的测量第4部分：传导发射的测量1Ω/150Ω直接耦合法》标准，系统梳理了该标准的立项背景、技术演进历程、核心内容框架及应用价值。该标准由国际电工委员会（IEC）于2021年3月16日正式发布，替代此前版本，规定了采用1Ω/150Ω直接耦合法的集成电路传导发射测量方法，适用于150kHz~1GHz频率范围内集成电路电磁发射的标准化评估。报告详细分析了1Ω/150Ω直接耦合法的技术原理、测量配置、测试条件及校准要求，并结合国内外集成电路电磁兼容标准体系的发展现状，探讨了该标准对芯片设计、封装测试及系统级电磁