IEC 60747-5-13：2021 半导体器件第5-13部分光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–Part5-13:OptoelectronicDevices–HydrogenSulphideCorrosionTestforLEDPackages

摘要

随着发光二极管（LED）在户外照明、显示、汽车电子及工业环境中的广泛应用，其封装结构在含硫化氢（H?S）等腐蚀性气体环境中的可靠性问题日益突出。硫化氢腐蚀会导致LED封装中银反射层、键合引线等关键材料发生硫化反应，引起光通量衰减、色坐标漂移乃至开路失效，严重影响产品使用寿命与安全性。国际电工委员会（IEC）于2021年6月正式发布IEC60747-5-13:2021《半导体器件第5-13部分：光电器件LED封装的硫化氢腐蚀试验》，为LED封装抗硫化腐蚀性能提供了统一的试验方法与评价依据。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术框架与核心内容，分析了标准在半导体光电器件标准化体系中的定位与作用，阐述了其主要参与单位的贡献，并结合行业技术发展趋势对标准的实施前景进行了展望。报告认为，该标准的发布填补了LED封装硫化氢腐蚀试验国际标准领域的空白，对规范产品质量、促进国际贸