环境试验 第2-1部分:试验 试验A:低温 标准立项发展报告.docx

环境试验 第2-1部分:试验 试验A:低温 标准立项发展报告.docx

环境试验第2-1部分:试验试验A:低温标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:EnvironmentalTesting-Part2-1:Tests-TestA:Cold

摘要

低温环境是电工电子产品全寿命周期中面临的关键气候因素之一。在高纬度寒区、高原地区及冬季户外工况下,低温会引发高分子材料脆化、润滑剂黏度增大、电池容量衰减、电子元器件参数漂移、焊点应力开裂等一系列可靠性问题,直接影响产品的功能实现与使用寿命。为统一、可重复地评价产品耐受低温的能力,国际电工委员会(IEC)第104技术委员会(TC104)修订发布了I

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