CN119334474A 一种基于黑体辐射源的双向反射分布函数多光谱测量方法与系统 (中国计量科学研究院).pdfVIP

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  • 2026-11-02 发布于重庆
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CN119334474A 一种基于黑体辐射源的双向反射分布函数多光谱测量方法与系统 (中国计量科学研究院).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119334474A

(43)申请公布日2025.01.21

(21)申请号202411463427.5

(22)申请日2024.10.18

(71)申请人中国计量科学研究院

地址100029北京市朝阳区北三环东路18

号

(72)发明人黄昂董伟王景辉杨玉健

安保林杨雪

(51)Int.Cl.

G01J5/0802(2022.01)

G01J5/08(2022.01)

G01J5/02(2022.01)

G01J5/10(2006.01)

权利要求书2页说明书3页附图4页

(54)发明名称

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