IEC 60747-4：2007AMD1：2017 修改件1.半导体器件.分立器件.第4部分微波二极管和晶体管标准立项发展报告.docx

IEC60747-4:2007/AMD1:2017半导体器件分立器件微波二极管和晶体管标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Amendment1-SemiconductorDevices-DiscreteDevices-Part4:MicrowaveDiodesandTransistors

摘要

随着微波通信、雷达系统、卫星传输及射频集成电路技术的快速发展，微波二极管和晶体管作为核心分立半导体器件，其性能参数的科学表征与规范化测试对于保障器件质量、促进国际贸易和技术交流具有关键意义。本标准修改件1（IEC60