无源射频和微波器件互调电平测量 第8部分:由暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量 标准立项发展报告.docx

无源射频和微波器件互调电平测量 第8部分:由暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量 标准立项发展报告.docx

无源射频和微波器件互调电平测量第8部分:由暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PassiveRFandMicrowaveDevices,IntermodulationLevelMeasurement-Part8:MeasurementofPassiveIntermodulationGeneratedbyObjectsExposedtoRFRadiation

摘要

无源互调(PassiveIntermodulation,PIM)是由无源器件非线性特性引起

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