IEC 62899-503-1：2020 印刷电子.第503-1部分质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法标准立项发展报告.docxVIP

印刷电子第503-1部分：质量评定印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:PrintedElectronics–Part503-1:QualityAssessment–TestMethodofDisplacementCurrentMeasurementforPrintedThin-FilmTransistor

摘要

印刷电子技术作为新一代电子制造技术的重要发展方向，凭借其低成本、大面积、柔性化等优势，在柔性显示、传感器、射频识别、可穿戴设备等领域展现出广阔的应用前景。印刷薄膜晶体管（PrintedThin-FilmTransistor,PTFT）是印刷电子电路的核心器件，其质量评定方法的标准化对于推动产业规模化发展具有关键意义。IEC62899-503-1:2020《印刷电子第503-1部分：质量评定印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法》由国际电工委员会（IEC）于2020年5月正式发布，为印刷薄膜晶体管位移电流的测量提供了统一的试验方法规范。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、编制依据及实施意义，分析了印刷电子产业对器件质量评定标准化的迫切需求，阐述了位移电流测量方法在评估印刷薄膜晶体管界面特性与器件性能方