IEC 61189-5-502：2021 电气材料、印制板和其他互连结构和组件的试验方法第5-502部分材料和组件的一般试验方法组件的表面绝缘电阻（SIR）试验标准立项发展报告.docxVIP

电气材料、印制板和其他互连结构和组件的试验方法第5-502部分：材料和组件的一般试验方法——组件的表面绝缘电阻（SIR）试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforElectricalMaterials,PrintedBoardsandOtherInterconnectionStructuresandAssemblies–Part5-502:GeneralTestMethodsforMaterialsandAssemblies–SurfaceInsulationResistance(SIR)TestingofAssemblies

摘要

表面绝缘电阻（SurfaceInsulationResistance,SIR）试验是评价电子组件在湿热、污染及离子迁移等环境应力作用下绝缘性能可靠性的关键测试手段，广泛应用于印制电路板（PCB）、电子组装件及相关互连结构材料的质量认证与可靠性评估。随着电子产品向高密度、细间距、高可靠性方向快速发展，SIR试验方法的标准统一愈发重要。IEC61189-5-502:2021由国际电工委员会（IEC）于2021年2月正式发布，是IEC61189系列标准的重要组成部分，专门针对组件级SIR试验方法进行系统规范