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光栅编码器加速寿命试验方法

1范围

本文件规定了光栅编码器加速寿命试验的术语和定义、试验条件、试验模型与应力选择、试验设备、试样要求、试验程序、故障判定、数据处理与寿命评估、检验规则及试验报告等内容。

本文件适用于光电式、磁电式和电容式旋转光栅编码器（以下简称编码器）在实验室条件下进行的加速寿命试验及可靠性评定。直线式光栅位移编码器可参照执行。

本文件不适用于编码器在实际使用现场的寿命验证试验及极限工况下的破坏性试验。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

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GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

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GB/T17799.1电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度

GB/T26860电力安全工作规程发电厂和变电站电气部分

GJB899A可靠性鉴定和验收试验

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