IEC 62878-1-1：2015 设备嵌入式基板 - 第1-1部分通用规范 - 测试方法标准立项发展报告.docx

设备嵌入式基板第1-1部分：通用规范——测试方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:DeviceEmbeddedSubstrate—Part1-1:GenericSpecification—TestMethods

摘要

随着电子信息系统向微型化、高密度化和多功能化方向快速发展，设备嵌入式基板技术作为先进封装与印制电路板制造领域的关键共性技术，已在消费电子、汽车电子、医疗电子及航空航天等领域获得广泛应用。然而，在IEC62878-1-1:2015发布之前，国际上缺乏统一的设备嵌入式基板测试