IEC TS 62607-3-3：2020 纳米制造.关键控制特性.第3-3部分发光纳米材料.用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告.docxVIP

纳米制造关键控制特性第3-3部分：发光纳米材料——用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing–KeyControlCharacteristics–Part3-3:LuminescentNanomaterials–DeterminationofFluorescenceLifetimeofSemiconductorQuantumDotsUsingTimeCorrelatedSinglePhotonCounting(TCSPC)

摘要

半导体量子点作为一类代表性的发光纳米材料，在显示、生物成像、光伏及量子信息等领域具有广阔应用前景，其荧光寿命是表征材料光学性能与质量控制的关键参数。然而，由于量子点荧光衰减过程处于纳秒量级，且受尺寸分布、表面缺陷及环境因素影响显著，行业内长期缺乏统一的荧光寿命测量方法标准，导致不同实验室与生产企业之间的数据难以比对，制约了纳米材料产业化进程中质量控制体系的建立。国际电工委员会（IEC）于2020年9月正式发布了IECTS62607-3-3:2020，规定了采用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点荧光寿命的技术要求、测量程序与数据处理方法。本报