(正式版)DB13∕T 6033-2024 《半导体器件低浓度氢效应试验方法》.docxVIP

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(正式版)DB13∕T 6033-2024 《半导体器件低浓度氢效应试验方法》.docx

ICS31.080CCSL40

DB13

河北省地方标准

DB13/T6033—2024

半导体?器件低?浓度氢?效应试验?方法

Testmethodoflowconcentrationhydrogeneffectinsemiconductordevices

2024-11-28实施2024-10-28

2024-11-28实施

河北?省市场监?督管?理局发布

I

DB13/T6033—2024

前言

本文件?按照GB/T1.1—2020《标准化?工作导?则第1部分:标准化?文件的结?构和起草?规则》的规定起草。

本文件?某些内容?可能涉?及专?利。本文件?的发布机?构不承?担识别专?利的?责任。

本文?件由?中共?河北省?委军民?融合?发展委员?会办?公室?提出。

本文件?由中共河?北省委军?民融合标?准化技术?委员会(HeB/TC21)归口。

本文件起?草单?位:中国电?子科技?集团?公司第?十三研究?所、河北北芯?半导体科?技有限?公司、河北科技大学。

本文件主?要起草人:高东阳、席善斌、彭浩、武利会、尹丽晶、宋玉玺、裴选、高若源、王伟、

任红霞。

DB13/T6033—2024

半导体器?件低浓度?氢效应?试验方法

1范

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